課程資訊
課程名稱
 電子材料特論
Special Topics on Electronic Materials 
開課學期
 106-1 
授課對象
 工學院  應用力學研究所  
授課教師
 陳建彰 
課號
 AM7154 
課程識別碼
 543 M5250 
班次
  
學分
 3.0 
全/半年
 半年 
必/選修
 選修 
上課時間
 星期三2,3,4(9:10~12:10) 
上課地點
 應109 
備註
 本課程中文授課,使用英文教科書。
總人數上限：60人 
Ceiba 課程網頁
 http://ceiba.ntu.edu.tw/1061AM7154_EMater 
課程簡介影片
 
核心能力關聯
 核心能力與課程規劃關聯圖
課程大綱
為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
課程概述

本學期學生將學習低溫電漿基礎知識、常壓電漿技術、電漿材料製程技術、材料基礎知識、以及材料分析工具的相關知識(包括SEM、EDS、WDS、XRD、表面分析、熱分析)等等。 

課程目標
 本學期學生將學習低溫電漿基礎知識、常壓電漿技術、電漿材料製程技術、材料基礎知識、以及材料分析工具的相關知識(包括SEM、EDS、WDS、XRD、表面分析、熱分析)等等。 
課程要求
 General physics,
General chemistry,
Engineering Mathematics 
預期每週課後學習時數
  
Office Hours
  
指定閱讀
 Principles of Electronic Materials and Devices, by S. O. Kasap, McGraw-
Hill 2005.

Introduction to Semiconductor Manufacturing Technology, 2nd Edt., by Hong Xiao, SPIE Press 
參考書目
 ☆★Introduction to Electrodynamics, by D. J. Griffith
☆★Concepts of Modern Physics, by A. Beiser
☆★Optoelectronics and Photonics, by S. O. Kasap, McGraw-Hill 2001.
☆★Solid State Electronic Devices, by B. G. Streetman, Prentice Hall.
☆★Physics of Solar Cells, by P. Wurfel, Wiley-VCH.
☆★Handbook of Photovoltaic Science and Engineering. Edited by A. Luque and
S. Hegedus, John Wiley & Sons, 2003.
☆ Principles of Electronic Materials and Devices, by S. O. Kasap, McGraw-
Hill 2005.
☆ Engineering Materials 1: An Introduction to Properties, Applications and
Design, by Michael F. Ashby and David R. H. Jones, Elsevier 2005.
☆ Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, R. E. Lee, Prentice-
Hall, 1993.
☆ Elements of X-ray Diffraction, B. D. Cullity, Addison Wesley.
☆ Principles of instrumental analysis, by D. A. Skoog, F. J. Holler, S. R.
Crouch, Belmont, CA: Thomson Brooks/Cole, 2007.
Understanding Materials Science, Rolf E. Hummel, Springer, 1997.
Materials – Engineering, Science, Processing and Design, by M. Ashby, H.
Shercliff, and D. Cebon, Elsevier 2007.
Instrumental Methods of Analysis, H. H. Willard, L. L. Merritt Jr, J. A. Dean,
F. A. Settle Jr., Wadsworth.
Surface analysis techniques and applications, edt by W. Neagle, D. R. Randell,
Cambridge, Royal Society of Chemistry, 1990.
An introduction to surface analysis by XPS and AES, by J. F. Watts and J.
Wolstenholme, New York: J. Wiley, 2003. 
評量方式
(僅供參考)
  
No.
項目
百分比
說明
1. 
 專題報告 
70% 
 書面及上台報告 
2. 
 小考 
30% 
 不定時，各大單元結束時進行，會事先通知 
 
課程進度
週次
日期
單元主題
第1週
 9/13  課程簡介 
第2週
 9/20  低溫電漿基礎 
第3週
 9/27  低溫電漿基礎 
第4週
 10/04  大氣電漿 
第5週
 10/11  大氣電漿 
第6週
 10/18  小考(暫訂) 
第7週
 10/25  物理氣相沈積及化學氣相沈積 
第8週
 11/01  物理氣相沈積及化學氣相沈積 
第9週
 11/08  材料基礎知識 
第10週
 11/15  材料基礎知識 
第11週
 11/22  材料分析工具-掃描式電子顯微鏡及微分析工具(EDS及WDS) 
第12週
 11/29  表面分析 
第13週
 12/06  熱分析 
第14週
 12/13  小考(暫訂) 
第15週
 12/20  太陽能電池導論 
第16週
 12/27  太陽能電池導論 
第17週
 1/03  專題報告